测量温度：RT~450℃/600℃

测量频率：10Hz~1MHz

测量环境：空气

测量通道：1/4通道可选

测量夹具：块体

测量温度：RT~1000℃

测量频率：10μHz~30MHz

测量环境：高温、真空、流动气氛、空气

测量通道：1/4通道可选

测量夹具：块体、薄膜

测量温度：-160℃~600℃

测量频率：10μHz~30MHz

测量环境：高低温、真空、流动气氛、空气

测量通道：1/5通道可选

测量夹具：块体、薄膜

专用于介电性能测量的精密仪器

10年专注-只为用户打造精准可靠的介电温谱仪

温度范围10K至1250℃，

控温精度±0.5℃

测量频率10μHz~30MHz

测量精度0.05%

可同时测量固体样品

和薄膜样品

Partulab数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决，让介电温谱仪有了全新定义。

全新的介电温谱测量系统不仅可以提供单样品块体/薄膜样品测量系统平台和多样品块体/薄膜样品测量系统平台，

​还可以提供不同的测量环境（如：流动气氛、真空气氛、不用氧分压），以满足科研多样化的需求。

块体样品夹具

薄膜样品夹具

单样品夹具

四样品夹具

       评估材料介电性能通常采用平行板电容器原理，上下电极采用两个平行板是最理想情况，但实际上在制作样品和测量过程中样品与电极两个平面不可能完全接触，通常只是一个或多个点接触，如果某个接触点导电性能不好就容易导致测量不稳定。为了避免以上现象，佰力博介电温谱仪上电极采用半球状，下电极采用平面，该电极系统可以精确定位测量被测样品某一点，从而使系统的重复性和稳定性更好。

 Partulab介电温谱测量系统需要搭配WK6500系列阻抗分析仪使用，

也可以兼容AgilentE4294A、E4980A、E4990A阻抗分析仪和TH2828S LCR。

WK6500系列

Agilent4294A

AgilentE4980A

AgilentE4990A

TH2828S

可以直接测量样品的介电常数和介电损坏随温度、时间、频率变化的曲线，

​可以测量阻抗谱随温度、时间、频率变化的曲线，同时得出Cole-Cole图和压电材料的机电耦合系数等。

通过阻抗测量C和D值，软件可以自动计算出介电常数和介电损耗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，还可以直接得出介电常数实部和虚部的比值。

通过阻抗测量Z和φ 值，软件可以自动计算出复阻抗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，还可以直接得出复阻抗Cole-Cole图。

通过阻抗测量Z和C值，以及不同温度下的谐振频率和反谐振频率，再通过软件自动计算出机电耦合系数随温度、时间、频率变化的曲线，软件可以直接得出机械品质因数Qm。